Αρχειοθήκη ιστολογίου

Αναζήτηση αυτού του ιστολογίου

Παρασκευή 19 Ιανουαρίου 2018

All-electronic Nanosecond-resolved Scanning Tunneling Microscopy: Facilitating the Investigation of Single Dopant Charge Dynamics

56861fig1.jpg

We demonstrate an all-electronic method to observe nanosecond-resolved charge dynamics of dopant atoms in silicon with a scanning tunneling microscope.

http://ift.tt/2BhQRK0

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου

Σημείωση: Μόνο ένα μέλος αυτού του ιστολογίου μπορεί να αναρτήσει σχόλιο.