Αρχειοθήκη ιστολογίου

Αναζήτηση αυτού του ιστολογίου

Δευτέρα 18 Ιανουαρίου 2016

Sample stage designed for force modulation microscopy using a tip-mounted AFM scanner

CrossMark.jpg

Analyst, 2016, Accepted Manuscript
DOI: 10.1039/C5AN02471D, Paper
Lu Lu, Song Xu, Donghui Zhang, Jayne Garno
Among the modes of scanning probe microscopy (SPM), force modulation microscopy (FMM) is often used to acquire mechanical properties of samples concurrent with topographic information. The FMM mode is useful...
The content of this RSS Feed (c) The Royal Society of Chemistry


from #Medicine via ola Kala on Inoreader http://ift.tt/1ZwpwsF
via IFTTT

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου

Σημείωση: Μόνο ένα μέλος αυτού του ιστολογίου μπορεί να αναρτήσει σχόλιο.